1樓
wangxinxin 發(fā)表于：2010-12-15 17:00:09
DEBUG卡故障代碼明細(xì)表
<p>現(xiàn)在很多人手上有電腦硬件檢測卡，但是卻沒有說明書，檢測出代碼卻不知道代碼的意思，以下就是PCI/ISA兩用型DEBUG卡故障代碼明細(xì)表（只適用于PCI/ISA兩用型及PCI單用型）<br />代碼 Award BIOS AMI BIOS Phoenix和Tandy3000 BIOS </p><p>00 （見特殊代碼意義） 已顯示系統(tǒng)的配置;即將控制工INT19引導(dǎo)裝入。（見特殊代碼意義） （見特殊代碼意義） 01 處理器測試1，處理起狀態(tài)核實(shí)，如果測試失敗，循環(huán)是無限的。 處理器寄存器的測試即將開始，不可屏蔽中斷即將停用。 CPU寄存器測試正在進(jìn)行或者失靈。 <br />02 確定診斷的類型（正常或者制造）。如果鍵盤緩沖器含有數(shù)據(jù)就會失效。 停用不可屏蔽中斷；通過延遲開始。 CMOS寫入/讀出正在進(jìn)行或者失靈。 <br />03 清除8042鍵盤控制器，發(fā)出TEST-KBRD命令(AAH)。 通電延遲已完成。 ROM B10S檢查部件正在進(jìn)行或失靈。 <br />04 使8042鍵盤控制器復(fù)位，核實(shí)TESTKBRD。 鍵盤控制器較復(fù)位/通電測試。 可編程間隔計(jì)時(shí)器的測試正在進(jìn)行或失靈。 <br />05 如果不斷重復(fù)制造測試1至5，可獲得8042控狀態(tài)。 已確定軟復(fù)位/通電；即將啟動ROM。 DMA初始準(zhǔn)備正在進(jìn)行或者失靈。 <br />06 使電路片作初始準(zhǔn)備，停用視頻，奇偶性，DMA電路片，以及清除DMA電路片，所有頁面寄存器和CMOS停機(jī)字節(jié)。使電路片作初始準(zhǔn)備，停用視頻，奇偶性，DMA電路片，以及清除DMA電路片，所有頁面寄存器和CMOS停機(jī)字節(jié)。 已啟動ROM計(jì)算ROM BIOS檢查總和，以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。 DMA初始頁面寄存器讀/寫測試正在進(jìn)行或失靈。 </p><p>07 處理器測試2，核實(shí)CPU寄存器的工作。 ROM BIOS檢查總和正常，鍵盤緩沖器已清除，向鍵盤發(fā)出BAT(基本保證測試)命令。 無意義 <br />08 使CMOS計(jì)時(shí)器作初始準(zhǔn)備，正常地更新計(jì)時(shí)器的循環(huán)。 已向鍵盤發(fā)出BAT命令，即將寫入BAT命令。 RAM更新檢驗(yàn)正在進(jìn)行或失靈。 </p><p>09 EPROM檢查總和且必須等于零才通過。 核實(shí)鍵盤的基本保證測試，接著核實(shí)鍵盤命令字節(jié)。 第一個(gè)64K RAM測試正在進(jìn)行。 <br />0A 使視頻接口作初始準(zhǔn)備。 發(fā)出鍵盤命令字節(jié)代碼，即將寫入命令字節(jié)數(shù)據(jù)。 第一個(gè)64K RAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈，移位。 <br />0B 測試8254通道0。 寫入鍵盤控制器命令字節(jié)，即將發(fā)出引腳23和24的封鎖/解鎖命令。 第一個(gè)64K RAM奇/偶邏輯失靈。 </p><p>0C 測試8054通道1。 鍵盤控制器引腳23，24已封鎖/解鎖；已發(fā)出NOP命令。 第一個(gè)64K RAM的地址線故障。 <br />0D 1.檢查CPU速度是否與系統(tǒng)時(shí)鐘相匹配。2.檢查控制芯片已編程值是否條符合初設(shè)置。3.視頻通道測試，如果失敗，則鳴喇叭。 已處理NOP命令；接著測試CMOS停開寄存器。 第一個(gè)64K RAM的奇偶性失靈。 <br />0E 測試CMOS停機(jī)字節(jié)。 CMOS停開寄存器讀/寫測試；將計(jì)算CMOS檢查總和。 初始貨輸入/輸出端口地址。 </p><p>0F 測試擴(kuò)展的CMOS。 已計(jì)算CMOS檢查總和寫入診斷字節(jié)；CMOS開始初始準(zhǔn)備。 無意義。 <br />10 測試DMA通道0。 CMOS已作初始準(zhǔn)備，CMOS狀態(tài)寄存器即將為日期和時(shí)間作初始準(zhǔn)備。 第一個(gè)64K RAM第0位故障。 <br />11 測試DMA通道1。 COMS狀態(tài)寄存器已作初始準(zhǔn)備，即將停用DMA和中斷控制器。 第一個(gè)64K RAM第1位故障。 <br />12 測試DMA頁面寄存器。 停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2；即將視頻顯示器并使端口B作初始準(zhǔn)備。 第一個(gè)64K RAM第2位故障。 <br />13 測試8471鍵盤控制器接口。 視頻顯示器已停用，端口B已作初始準(zhǔn)備；即將開始電路片初始化/存儲器自動檢測。 第一個(gè)64K RAM第3位故障。 <br />14 測試存儲器更新觸發(fā)電路。 電路片初始化/存儲器自動檢測結(jié)束；8254計(jì)時(shí)器測試即將開始。 第一個(gè)64K RAM第4位故障。 <br />15 測試開頭64K的系統(tǒng)存儲器。 第2通道計(jì)時(shí)器測試了一半；8254第2通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64K RAM第5位故障。 </p><p>16 建立8259所用的中斷矢量表。 第2通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束；8254第1通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64K RAM第6位故障。 <br />17 調(diào)準(zhǔn)視頻輸入/輸出工作，若裝有視頻BIOS則啟用。 第1通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束；8254第0通道即將完成測試。 第一個(gè)64K RAM第7位故障。 <br />18 測試視頻存儲器，如果安裝選用的視頻BIOS通過，則可繞過。 第0通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束；即將開始更新存儲器。 第一個(gè)64K RAM第8位故障。 <br />19 測試第1通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。 已開始更新存儲器，接著將完成存儲器的更新。 第一個(gè)64K RAM第9位故障。 <br />1A 測試第2通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。 正在觸發(fā)存儲器更新線路，即將檢查15微秒通/斷時(shí)間。 第一個(gè)64K RAM第10位故障。 <br />1B 測方式CMOS電池電平。 完成存儲器更新時(shí)間30微秒測試；即將開始基本的64K存儲器測試。 第一個(gè)64K RAM第11位故障。 <br />1C 測試COMS檢查總和。 無意義。 第一個(gè)64K RAM第12位故障。 <br />1D 調(diào)定COMS的配置。 無意義。 第一個(gè)64K RAM第13位故障。 <br />1E 測定系統(tǒng)存儲器的大小，并且把客觀存在和COMS值比較。 無意義。 第一個(gè)64K RAM第14位故障。 <br />1F 測試64K存儲器至最高640K。 無意義。 第一個(gè)64K RAM第15位故障。 <br />20 測量固定的8259中斷位。 開始基本的64K存儲器測試；即將測試地址線。 從屬DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。 <br />21 維持不可屏蔽中斷（NMI）位（奇偶性或輸入/輸出通道的檢查）。 通過地址線測試；即將觸發(fā)奇偶性。 主DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。 <br />22 測試8259的中斷功能。 結(jié)束觸發(fā)奇偶性；將開始串行數(shù)據(jù)讀/寫測試。 主中斷屏蔽寄存器正在進(jìn)行或失靈。 <br />23 測試保護(hù)方式8086虛似方式和8186頁面方式。 基本的64K串行數(shù)據(jù)讀/寫測試正常；即將開始中斷矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)。 從屬中斷屏蔽寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。 <br />24 測定1Mb以上的擴(kuò)展存儲器。 矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)完成，即將開始中斷矢量的初始準(zhǔn)備。 設(shè)置ES段地址寄存器注冊表到內(nèi)存高端。 <br />25 測試除頭一個(gè)64K之后的所有存儲器。 完成中斷矢量初始準(zhǔn)備；將為旋轉(zhuǎn)武斷續(xù)開始讀出8042的輸入/輸出端口。 裝入中斷矢量正在進(jìn)行或失靈。 <br />26 測試保護(hù)方式的